2024.10.23 22:03

• 中時新聞網

黃仁勳23日於訪問丹麥行程中親自證實，Blackwell晶片在設計上確實存在「瑕疵」。圖／本報資料照片


【中時新聞網 賴宇萍】輝達的殺手級AI晶片Blackwell一度傳出因設計缺陷，導致生產進度推遲，近期更有媒體報導，輝達因此與長期戰友台積電鬧內訌。針對相關傳聞，輝達執行長黃仁勳終於親口作出解釋。


據路透社報導，黃仁勳23日於訪問丹麥行程中親自證實，Blackwell晶片在設計上確實存在「瑕疵」，雖然可以運作，但設計缺陷導致良率低下。黃仁勳坦言，這瑕疵「百分之百是輝達的錯」。

先前有媒體報導，生產延遲導致輝達與長期夥伴台積電之間關係緊張，黃仁勳也當場鄭重否認，指出這根本是「假新聞」。


黃仁勳還強調，影響Blackwell生產的設計缺陷已在台積電的幫助下修復，而且台積電不但幫助輝達擺脫良率難題，並且以令人難以置信的速度恢復生產。